請解釋偏折測量(deflectometry)在光學和表面量測中的應用。

回答於 : 2024-01-24

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1. **光學表面量測：** 偏折測量方法應用於光滑物體的三維形貌量測，使用投影二值碼和結構光編碼，具有絕對偏移量測的優勢[1] [2]。

2. **Moiré偏轉測量：** Moiré偏轉測量技術類似於乾涉測量，常用於量測物體表面形狀，尤其是在莫爾偏轉儀中的應用[3] [6]。

3. **偏折測量應用範疇：** 在光學技術中，偏折測量廣泛應用於量測鏡射表面、晶圓彎曲度等領域[1] [8] [9]。

4. **其他光學技術：** 激光紋影偏轉測量(Laser Schlieren Deflectometry)是一種用於快速測量微觀尺寸氣體溫度的方法[10]。

這些技術有助於高效而精確地進行各種光學和表面量測，廣泛應用於科學研究和工業應用中。

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